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高激光损伤阈值光学元件
- 激光损伤阈值(LIDT)是高功率激光系统应用的关键参数之一。光学元件的损伤可能由不同的机理引起的，但主要是由热效应或场强效应导致的。 pp电子科技凭借超过三十年的激光行业设计和加工经验，已掌握了高激光损伤阈值光学元件制造和控制方法，比如超光滑抛光技术、离子束溅射镀膜技术和弱吸收控制技术。采用这些特殊技术加工的光学元件具有极低的光学损耗和极高的激光损伤阈值。另外，在材料选择方面，我们可以根据不同的应用推荐不同的高功率应用材料。
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激光损伤阈值(LIDT)是高功率激光系统应用的关键参数之一。光学元件的损伤可能由不同的机理引起的，但主要是由热效应或场强效应导致的。
pp电子科技凭借超过三十年的激光行业设计和加工经验，已掌握了高激光损伤阈值光学元件制造和控制方法，比如超光滑抛光技术、离子束溅射镀膜技术和弱吸收控制技术。采用这些特殊技术加工的光学元件具有极低的光学损耗和极高的激光损伤阈值。另外，在材料选择方面，我们可以根据不同的应用推荐不同的高功率应用材料。
光学检测能力
pp电子科技已建立了多波长损伤阈值测量系统，测量波长涵盖266 nm、355 nm、532 nm和1064 nm，测量系统的脉冲持续时间为5ns，可采用1对1或S对1模式。
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激光损伤阈值(LIDT)是高功率激光系统应用的关键参数之一。光学元件的损伤可能由不同的机理引起的，但主要是由热效应或场强效应导致的。
pp电子科技凭借超过三十年的激光行业设计和加工经验，已掌握了高激光损伤阈值光学元件制造和控制方法，比如超光滑抛光技术、离子束溅射镀膜技术和弱吸收控制技术。采用这些特殊技术加工的光学元件具有极低的光学损耗和极高的激光损伤阈值。另外，在材料选择方面，我们可以根据不同的应用推荐不同的高功率应用材料。
光学检测能力
pp电子科技已建立了多波长损伤阈值测量系统，测量波长涵盖266 nm、355 nm、532 nm和1064 nm，测量系统的脉冲持续时间为5ns，可采用1对1或S对1模式。
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