产品中心
PRODUCTS
在线留言
MESSAGES
产品详情
-
生长纹测试仪
- 生长纹测试仪的原理是基于纹影法。通常在难以可视化的透明固体、气体、液体中，光的折射率也因密度梯度而异。这是一种将折射率的细微变化变成大的明暗差来观测的装置。
-
生长纹测试仪 产品介绍
中文名 生长纹测试仪
英文 Crystal Growth Striation Measurement
测试原理
生长纹测试仪的原理是基于纹影法。通常在难以可视化的透明固体、气体、液体中，光的折射率也因密度梯度而异。这是一种将折射率的细微变化变成大的明暗差来观测的装置。透明气体、液体和固体中的不均匀状态作为密度梯度，通过的光可以弯曲。纹影法是利用折射率（光的前进方向）的变化可视化的光学观测方法。
工作原理是将点光源的光经过透镜后形成平行光束，在放入被测物后将光束聚焦，并将刀片放置在其焦点上。如果将该刀片边缘缩小到适当的视野中，则向接近刃的方向折射的部分较暗，离得远的地方会变亮。由此，被测量物的密度分布被观察为明暗对比度。
设备外观图
应用领域
● 晶体生长研究：可用于晶体生长纹路观察与分析，研究晶体生长的关键参数，对于优化晶体性能和材料研究具有重要意义。
● 质量控制：应用于晶体生长的质量控制，评估晶体的质量、纯度以及缺陷情况，对于优化晶体生长工艺、提高晶体质量和性能具有重要意义。
产品参数
|
产品名称 |
生长纹测量仪 |
|
产品型号 |
SI-50 |
|
照明种类 |
OSRAM 12 V, 50W |
|
冷却方式 |
风扇强制空冷 |
|
输入电压 |
AC 220V |
|
频率 |
50/60 Hz |
|
耗电 |
约60 W |
|
温度 |
10~35 ℃ |
|
湿度 |
30~80 % RH |
|
观测样品尺寸 |
约φ 50 mm |
|
整机尺寸 |
255（w）×387（h）×610（d）mm3 含样品观测台、固定支架 |
测试实例
 |
 |
晶体切片生长纹观察
产品详情
生长纹测试仪 产品介绍
中文名 生长纹测试仪
英文 Crystal Growth Striation Measurement
测试原理
生长纹测试仪的原理是基于纹影法。通常在难以可视化的透明固体、气体、液体中，光的折射率也因密度梯度而异。这是一种将折射率的细微变化变成大的明暗差来观测的装置。透明气体、液体和固体中的不均匀状态作为密度梯度，通过的光可以弯曲。纹影法是利用折射率（光的前进方向）的变化可视化的光学观测方法。
工作原理是将点光源的光经过透镜后形成平行光束，在放入被测物后将光束聚焦，并将刀片放置在其焦点上。如果将该刀片边缘缩小到适当的视野中，则向接近刃的方向折射的部分较暗，离得远的地方会变亮。由此，被测量物的密度分布被观察为明暗对比度。
设备外观图
应用领域
● 晶体生长研究：可用于晶体生长纹路观察与分析，研究晶体生长的关键参数，对于优化晶体性能和材料研究具有重要意义。
● 质量控制：应用于晶体生长的质量控制，评估晶体的质量、纯度以及缺陷情况，对于优化晶体生长工艺、提高晶体质量和性能具有重要意义。
产品参数
|
产品名称 |
生长纹测量仪 |
|
产品型号 |
SI-50 |
|
照明种类 |
OSRAM 12 V, 50W |
|
冷却方式 |
风扇强制空冷 |
|
输入电压 |
AC 220V |
|
频率 |
50/60 Hz |
|
耗电 |
约60 W |
|
温度 |
10~35 ℃ |
|
湿度 |
30~80 % RH |
|
观测样品尺寸 |
约φ 50 mm |
|
整机尺寸 |
255（w）×387（h）×610（d）mm3 含样品观测台、固定支架 |
测试实例
|
|
晶体切片生长纹观察
QQ:2763909188
版权所有@ 福建pp电子科技股份有限公司 闽ICP备06000911号
闽公网安备 35010202001701号
留言
邮箱
